介質(zhì)損耗值又稱為tanδ，是測(cè)量絕緣材料在電場(chǎng)的作用下流過(guò)的電流相量和電壓相量之間的夾角的余角，通俗的來(lái)說(shuō)是測(cè)量絕緣材料的內(nèi)部能量損耗。
介損值試驗(yàn)過(guò)程
（1）用接地線一端接儀器的接地柱，另一端與大地作可靠連接，保證儀器外殼處在地電位上。
（2）正接線時(shí)：將高壓電纜插頭插入后門(mén)HV插座中，將另一端的紅色大鉗子夾到被測(cè)試品的高端引線上，黑色小鉗子懸空或夾在紅色大鉗子上，將CX低壓電纜插入CX插座中，另一端的紅色夾子夾試品的低端，黑色夾子懸空或接屏蔽裝置。
（3）反接線時(shí)：將高壓電纜插頭插入后門(mén)HV插座中，將另一端的紅色大鉗子夾到被測(cè)試品的高端引線上，紅色小鉗子懸空或接屏蔽裝置，Cx插座不用。
（4）試驗(yàn)的方法根據(jù)試驗(yàn)的情況選擇，接線完成之后就可以打開(kāi)測(cè)試儀的電源開(kāi)關(guān)，在參數(shù)中設(shè)置試驗(yàn)頻率即可，如果沒(méi)有電磁的影響建議用定頻試驗(yàn)，優(yōu)勢(shì)就是相對(duì)而言效率更高一些。
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