由于絕緣電阻測量的局限性，所以在絕緣試驗(yàn)中就出現(xiàn)了測量泄漏電流的項(xiàng)目。關(guān)于泄漏電流（ｉＬ）的概念在上節(jié)中已加以說明。測量泄漏電流所用的設(shè)備要比兆歐表復(fù)雜，一般用直流高壓發(fā)生器進(jìn)行測試。
由于試驗(yàn)電壓高，所以就容易暴露絕緣本身的弱點(diǎn)，用微安表直測泄漏電流，這可以做到隨時(shí)進(jìn)行監(jiān)視，靈敏度高。并且可以用電壓和電流、電流和時(shí)間的關(guān)系曲線來判斷絕緣的缺陷。因此，它屬于非破壞性試驗(yàn)的方法。
直流耐壓試驗(yàn)往往可以發(fā)現(xiàn)一些交流耐壓試驗(yàn)中不易發(fā)現(xiàn)的局部缺陷，如發(fā)電機(jī)的端部絕緣缺陷，同時(shí)還具有試驗(yàn)設(shè)備較輕便，沒有極化損失，對絕緣的破壞比交流電壓要小得多等特點(diǎn)，所以得到了廣泛的使用。它是屬于破壞性的試驗(yàn)。它和交流耐壓試驗(yàn)是互補(bǔ)的，不能互相代替。而試驗(yàn)電壓值對各種電氣設(shè)備是不同的。
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